CIVILICA We Respect the Science
(ناشر تخصصی کنفرانسهای کشور / شماره مجوز انتشارات از وزارت فرهنگ و ارشاد اسلامی: ۸۹۷۱)

بررسی و ارزیابی پایداری حرارتی و زبری سطح لایه نازک اکسید روی

عنوان مقاله: بررسی و ارزیابی پایداری حرارتی و زبری سطح لایه نازک اکسید روی
شناسه ملی مقاله: ISSE20_061
منتشر شده در بیستمین همایش ملی مهندسی سطح و اولین کنفرانس آنالیز تخریب و تخمین عمر در سال 1398
مشخصات نویسندگان مقاله:

میلاد عبداله زاده سفار - دانشجوی کارشناسی ارشد، دانشکده مهندسی مواد، دانشگاه صنعتی مالک اشتر، اصفهان، ایران
اکبر اسحاقی - دانشیار، دانشکده مهندسی مواد، دانشگاه صنعتی مالک اشتر، اصفهان، ایران
محمدرضا دهنوی - استادیار، دانشکده مهندسی مواد، دانشگاه صنعتی مالک اشتر، اصفهان، ایران

خلاصه مقاله:
اکسید روی (ZnO) یک نیمه رسانای نوع n با گاف انرژی پهن می باشد، به همین علت به عنوان یک ماده مفید برای گسترش قطعات الکترونیکی و اپتوالکترونیکی مانند رساناهای شفاف، حسگرهای گازی واریستورها، همچنین در ساخت سلول ای خورشیدی نیز به کار می رود. روش های متعددی برای تهیه فیلم های نازک اکسید روی با توجه به محدوده وسیع کاربردشان وجود دارد. در این کار تجربی فیلم های نازک اکسید روی، با استفاده از روش سل ژل و به کارگیری تکنیک غوطه وری بر روی زیرلایه های مسی تهیه شده اند. از زینک استات دی هیدرات به عنوان ماده اولیه و از محلول های 2- متوکسی اتانول و دی اتانول آمین به ترتیب به عنوان حلال و پایدارساز استفاده شده است. غلظت فیلم های تهیه شده 0/9 مول بر لیتر می باشد و این فیلم ها در دمای 300 درجه سانتی گراد باز پخت شده اند. همچنین در این تحقیق، مورفولوژی، زبری سطح و پایداری حرارتی پوشش مورد بررسی قرار می گیرد.

کلمات کلیدی:
اکسید روی، پایداری شیمیایی، نیمه هادی، پایداری حرارتی، زبری سطح

صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://civilica.com/doc/1013824/