غلامرضا امیری - دانشگاه آزاد اسلامی واحد فلاورجان
محمدحسن یوسفی - دانشگاه صنعتی مالک اشتر شاهین شهر

دراین پژوهش ابتدا فریتهای مورد نظر به روش LTSSR سنتز شده خواص ساختاری و مغناطیسی آنها با XRD و AGFM مورد بررسی قرارگرفته است سپس برای اندازه گیری Q فکتور رینگی تهیه شد و با دستگاه LCR سنج مقادیر Q از فرکانس 50 هرتز تا 5 مگاهرتز اندازه گیری شد که نتایج نشان میدهد که این فریتها در فرکانسهای بالا قابل استفاده می باشند.

فکتورQ، نانوساختار، فریت