محمد سعیدی - اصفهان، شاهین شهر، دانشگاه صنعتی مالک اشتر (کارشناس ارشد مهندسی مواد)
اکبر اسحاقی - اصفهان، دانشگاه صنعتی مالک اشتر، دانشکده مهندسی مواد (دانشیار)
عباسعلی آقایی - اصفهان، شاهین شهر، دانشگاه صنعتی مالک اشتر، دانشکده مهندسی مواد (دانشجوی دکتری)
حسین زابلیان - اصفهان، صنایع الکترواپتیک صاایران (صاپا)

در پژوهش حاضر نانوسیم نقره به روش پلی-ال سنتز شده و لایه نشانی نانوسیم نقره روی زیرلایه های شیشه ای بهروش دراپ کستینگ انجام گرفت. مشخصه یابی لایه نازک با استفاده از روش های پراش سنجی پرتوایکس،میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدان، طیف سنج UV- VIS و پروب چهار نقطه ای انجام شد. نتایج حاصلهنشان می دهد نمونه با شفافیت ۸۰ درصد در طول موج موئی، دارای مقاومت سطحی ۸۹ اهم بر مربع می باشد.

نانوسیم نقره، الکترود شفاف هادی، لایه نازک