غلامرضا خادم وطن - دانشگاه شهید بهشتی
علی جلالی - دانشگاه شهید بهشتی

در این مقاله یک روش ابداعی جهت یافتن منطقه و ضریب وارونگی مناسب جهت دستیابی به فاکتور خطینگی ایده آل در مدارات آنالوگ و RF و در فرآیندهای پیشرفته جهت کاربردهای گوناگون ماننداینترنت اشیاء و M۲M پیشنهاد گردیده است. مدل مورد استفاده در این روش مدل EKV و پارامتر اصلی طراحی که این شیوه بر پایه آن تشریح می شود ضریب وارونگی IC است که مشخصه های موردنیاز در این شیوه بر اساس آن و در تمامی نواحی طراحی یعنی WI ، MI ، SI و VS استخراج گردیده اند. دو شاخصه مهم خطینگی یعنی A۱dB و AIP۳ ابتدا برای بک تقویت کننده تفاضلی یک طبقهمحاسبه و نتایج مربوطه جهت برآورد هدف این مقاله تجزیه و تحلیل می شود. برای تعمیم نتایج بدست آمده برای سایر مدارات، شاخص های مربوط به خطینگی در یک مدار کسکود نیز بررسی و درستی نتایج حاصله تایید می گردد. در انتها نقطه اپتیمم ضریب وارونگی جهت بایاسینگ قطعات فعال آنها بدست آورده می شود

RF (Radio Frequency), IC (Inversion Coefficient), WI (Weak Inversion), MI (Moderate Inversion), SI(Strong Inversion), VS(Velocity Saturation)