احمدرضا عزیزخانی - دانشکده مهندسی برق، دانشگاه یزد یزد، ایران
سمراد جعفریان نمین - گروه مهندسی صنایع، دانشگاه یزد یزد، ایران
علی میروکیلی - دانشکده مهندسی برق، دانشگاه یزد یزد، ایران

در حال حاضر، انجام مطالعات قابلیت اطمینان به عنوان یک نیاز اساسی در سیستم های الکترونیکی شناخته می شود. پرداختن به این موضوع می تواند مزایایی همچون کاهش هزینه ها را در پی داشته باشد. از خلوص مواد استفاده شده در دستگاه های سازنده آن تا رابط کاربری اپراتور بر قابلیت اطمینان هر سیستم الکترونیکی تاثیر می گذارند. از بین تمام روش های موجود، راهنمای MIL-HDBK-۲۱۷ و تکنیک FIDES از جمله ابزارهای اساسی در مطالعات قابلیت اطمینان بشمار می روند. این روش ها بر اساس بهترین داده ها و متناسب با شرایط وزن دهی هر وضعیت المان الکتریکی انجام می شود، تا با استفاده از آن پیش بینی طول عمر المان میسر گردد. این مقاله به دنبال آن است که این دو روش را مقایسه کند و قابلیت اطمینان دو منبع تغذیه خطی و منبع تغذیه سوییچینگ را تخمین بزند. همچنین راهکار کلی جهت عمردهی به منبع تغذیه را معرفی نماید

قابلیت اطمینان، سیستم های الکترونیکی، تخمین عمر، MIL-HDBK-۲۱۷، تکنیک FIDES