سنتز و مشخصه یابی اکسید گرافن با استفاده از پراش پرتو ایکس و طیف سنجی رامان
عنوان مقاله: سنتز و مشخصه یابی اکسید گرافن با استفاده از پراش پرتو ایکس و طیف سنجی رامان
شناسه ملی مقاله: IMTC03_091
منتشر شده در سومین کنفرانس ملی تجهیزات و فناوری های آزمایشگاهی در سال 1401
شناسه ملی مقاله: IMTC03_091
منتشر شده در سومین کنفرانس ملی تجهیزات و فناوری های آزمایشگاهی در سال 1401
مشخصات نویسندگان مقاله:
مصطفی بدرود - دانشجوی کارشناسی ارشد، گروه مهندسی شیمی ، دانشکده فنی مهندسی، دانشگاه محقق اردبیلی، اردبیل، ایران
فهیمه حوری آباد صبور - هیئتعلمی گروه آموزشی مهندسی شیمی، دانشکده فنی مهندسی، دانشگاه محقق اردبیلی، اردبیل، ایران
مجید صفاجو جهانخانملو - هیئتعلمی گروه آموزشی مهندسی شیمی، دانشکده فنی مهندسی، دانشگاه محقق اردبیلی، اردبیل، ایران
خلاصه مقاله:
مصطفی بدرود - دانشجوی کارشناسی ارشد، گروه مهندسی شیمی ، دانشکده فنی مهندسی، دانشگاه محقق اردبیلی، اردبیل، ایران
فهیمه حوری آباد صبور - هیئتعلمی گروه آموزشی مهندسی شیمی، دانشکده فنی مهندسی، دانشگاه محقق اردبیلی، اردبیل، ایران
مجید صفاجو جهانخانملو - هیئتعلمی گروه آموزشی مهندسی شیمی، دانشکده فنی مهندسی، دانشگاه محقق اردبیلی، اردبیل، ایران
گرافن و مشتقات آن به دلیل ویژگیهای خاص مکانیکی، شیمیایی و الکتریکی یکی از گزینه های مناسب برای کاربردهای مختلف نظیر کاربرد در ساخت انواع کامپوزیت ها میباشند. کامپوزیتهای مختلف گرافن با موادی همچون پلیمرها، نانو ذرات فلزی و مواد کربنی مختلف خواص ویژه ای را ایجاد میکند که موجب میشود این دسته از مواد در کاربردهایی همچون بیوسنسورها، ذخیره سازی انرژی، داروسازی و تصفیه آب مورداستفاده قرار گیرند. در این مقاله سنتز و مشخصه یابی اکسید گرافن موردبررسی قرارگرفته است. ابتدا اکسید گرافن به روش هامرز بهبودیافته سنتز شده و سپس نمونه با آنالیزهای پراش پرتوایکس (XRD) و طیف سنجی رامان مشخصه یابی شده است. از آنالیزهای XRD و طیف سنجی رامان برای بررسی تغییرات ساختاری ایجادشده در گرافیت حین سنتز و تشکیل اکسید گرافن استفاده شده است.
کلمات کلیدی: اکسید گرافن، پراش پرتو ایکس (XRD)، طیف سنجی رامان
صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://civilica.com/doc/1549753/