سمیرا سلجوقی پبدنی - دانشجوی کارشناسی ارشد، گروه مهندسی شیمی ، دانشکده فنی مهندسی ، دانشگاه محقق اردبیلی ، اردبیل ، ایران
بهروز میرزایی - هیئتعلمی گروه آموزشی مهندسی شیمی، دانشکده فنی مهندسی، دانشگاه محقق اردبیلی، اردبیل،ایران

طیف سنجی پراش اشعه (XRD) X یک تکنیک بسیار سریع و تحلیلی به منظور شناسایی فاز یک ماده ی کریستالی است. امروزه این تکنیک یکی از روشهای معمول برای مطالعه ساختارهای کریستالی و فاصله اتمی است. اشعه های X مورداستفاده در پراش، به طورمعمول دارای طول موجی در حدود ۰.۵ تا ۲.۵ آنگستروم هستند ازاینرو این روش بر مبنای خاصیت موجی اشعه بناشده است؛ بنابراین با به کارگیری این ناحیه طیفی میتوان اطلاعاتی بسیار کاربردی ساختارهای کریستالی را نظیر هندسه شبکه، تعیین اندازه کریستالها، جهتگیری تک کریستال و عیوب ساختار را تعیین نمود. علاوه بر این طیف سنجی پراش اشعه X با مشخص نمودن پارامترهای تاثیرگذاری چون زاویه براگ، شدت و پهنای پیکها و اندازه ذرات توانایی شناسایی ترکیبات را داراست. در این مقاله ابتدا به اساس کار و سپس به معرفی سایر اجزای طیف سنجی پراش اشعه X و کاربرد آن در مشخصه یابی آسفالتین پرداخته میشود.

تجهیزات آزمایشگاهی، ساختارهای کریستالی، طیف سنجی پراش اشعه X