سمیرا سلجوقی پبدنی - دانشجوی کارشناسی ارشد، گروه مهندسی شیمی ، دانشکده فنی مهندسی ، دانشگاه محقق اردبیلی ، اردبیل ، ایران
بهروز میرزایی - هیئت علمی گروه آموزشی مهندسی شیمی ، دانشکده فنی مهندسی ، دانشگاه محقق اردبیلی ، اردبیل ،ایران

طیف سنجی پراش اشعه (XRD) X یک تکنیک بسیار سریع و تحلیلی به منظور شناسایی فاز یک ماده ی کریستالی است . امروزه این تکنیک یکی از روش های معمول برای مطالعه ساختارهای کریستالی و فاصله اتمی است . اشعه های X مورداستفاده در پراش، به طورمعمول دارای طولموجی در حدود ۵,۰ تا ۵,۲ آنگستروم هستند ازاین رو این روش بر مبنای خاصیت موجی اشعه بناشده است ؛ بنابراین با به کارگیری این ناحیه طیفی می توان اطلاعاتی بسیار کاربردی ساختارهای کریستالی را نظیر هندسه شبکه ، تعیین اندازه کریستال ها، جهت گیری تک کریستال و عیوب ساختار را تعیین نمود. علاوه بر این طیف سنجی پراش اشعه X با مشخص نمودن پارامترهای تاثیرگذاری چون زاویه براگ، شدت و پهنای پیک ها و اندازه ذرات توانایی شناسایی ترکیبات را داراست . در این مقاله ابتدا به اساس کار و سپس به معرفی سایر اجزای طیف سنجی پراش اشعه X و کاربرد آن در مشخصه یابی آسفالتین پرداخته می شود.

تجهیزات آزمایشگاهی ، ساختارهای کریستالی ، طیف سنجی پراش اشعه X