پژمان محمودی - دانشجوی کارشناسی ارشد، سرامیک، دانشگاه صنعتی شریف، دانشکده علم و مهندسی مواد
محمد مالکی شهرکی - استادیار، الکتروسرامیک، دانشگاه مراغه، دانشکده فنی و مهندسی
علی نعمتی - دانشیار، سرامیکهای نانوساختار و الکتریکی، دانشگاه صنعتی شریف، دانشکده علم و مهندسی مواد

هدف این تحقیق بررسی تاثیر زمان زینترینگ بر ریزساختار و خواص الکتریکی سیستم معروف وریستور اکسید قلع دوپ شده با اکسید مس بعنوان تسریع کننده ی رشد دانه است. پس از مخلوط کردن مواد اولیه در آسیاپ پرانرژی و ساخت قرص خام، قرصهای خام وریستور در دمای ۱۳۰۰ oC و زمانهای ۱، ۲:۳۰، ۵ و ۱۰ ساعت زینتر شدهاند. پس از ارزیابی ریزساختاری مشاهد شد که میانگین اندازه دانه در ریزساختار تکفاز از ۸/۵ ʽm به ۱۴/۲ ʽm افزایش یافت که این افزایش در اندازه دانه، ناشی از افزایش زمان زینتر و همچنین تاثیر فاز مایع اکسید مس در حین زینترینگ است. علاوه بر این میدانهای الکتریکی شکست وریستور با گذشت زمان به تدریج از ۳/۱۶ (kV/cm) به ۱/۳۰ (kV/cm) کاهش یافت. همچنین ضریب غیرخطی با تغییرات غیریکنوایی بین اعداد ۱۷ و ۳۰ تغییر کرد.

وریستور، اکسید قلع، اکسید مس