مهرداد عباسی - نویسنده
مجید عباسی - نویسنده

در این نوشتار مقدمه ای بر روش کارآمد و در حال تکامل (EBSD) Electron Backscattered Diffraction ارایه می شود. روش پراش الکترون های به عقب رانده شده(EBSD) توانایی های قابل توجهی در بررسی کمی و کیفی ریزساختار دارد. توسعه EBSDبتازگی مورد توجه وسیع صنایع و مراکز پژوهشی قرار گرفته، به گونه ای که به روش اصلی بررسی ریزساختار در بسیاری از این مراکز تبدیل شده است. این روش در محاسبه جهات بلوری ریزساختارها (Nano and Microstructures)، تشخیص فاز و میزان توزیع فازها کاربرد دارد. شواهد اولیهEBSD در سال ۱۹۲۸ در میکروسکوپ الکترون عبوری(TEM) دیده شد و تا به امروز پیشرفت های شایانی در بهبود تصویر و استخراج داده ها صورت گرفته است. از آن جمله می توان به توسعه سخت افزار، تهیه نرم افزارها، ابداع روش های مشاهده تصویر و کمیت سازی ریزساختار اشاره کرد. اصول،تاریخچه،کاربردها و چندین مثال کاربردی ازEBSDد در این نوشتار ارایه می شوند.

پراش الکترون های به عقب رانده شده(EBSD), بررسی کمی ریزساختار, تصویربرداری جهتی(OIM), اختلاف جهتی