CIVILICA We Respect the Science
(ناشر تخصصی کنفرانسهای کشور / شماره مجوز انتشارات از وزارت فرهنگ و ارشاد اسلامی: ۸۹۷۱)

سنتز نانوساختارGaN بروی زیرلایه Si به روش نیمه صنعتیPACVD

عنوان مقاله: سنتز نانوساختارGaN بروی زیرلایه Si به روش نیمه صنعتیPACVD
شناسه ملی مقاله: JR_SPF-1-2_004
منتشر شده در در سال 1400
مشخصات نویسندگان مقاله:

مهدی عربعلی - دانشجوی مقطع کارشناسی، دانشگاه افسری امام علی (ع)، تهران، ایران.
مهدی غلام پور - استادیار و عضو هیات علمی گروه فیزیک، دانشکده علوم پایه، دانشگاه افسری امام علی (ع)، تهران، ایران.

خلاصه مقاله:
نیترید گالیم  (GaN)از مواد اپتوالترونیکی است که کاربردهای فراوانی در عرصه الکترونیک دارد. در این تحقیق روش ساخت نانوساختار GaN روی زیرلایه Si به روش رسوب بخار شیمیایی به کمک پلاسما (PACVD) بررسی شده و خواص این نانوساختار مورد ارزیابی قرار گرفته است. پیش ماده مورد استفاده ترکیبGaCl۳  و گاز H۲، N۲ و Ar بود. از پلاسما برای بهینه سازی لایه نشانی در  موارد مختلف استفاده شد. سازوکار رشد خصوصیات مورفولوژیکی و ساختار نانوساختار GaN رشد یافته روی زیرلایه Si با استفاده از دستگاه تصویربردای FE-SEM و GIXRD بررسی و ساختاری بلوری از ترکیب GaN در دمای ۵۲۰ مشاهده شده است.

کلمات کلیدی:
GaN, نانوساختار, PACVD, پلاسما, رسوب بخار شیمیایی از فاز بخار

صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://civilica.com/doc/1925524/