CIVILICA We Respect the Science
(ناشر تخصصی کنفرانسهای کشور / شماره مجوز انتشارات از وزارت فرهنگ و ارشاد اسلامی: ۸۹۷۱)

مشخصه یابی و بررسی خواص الکتریکی نانو ساختار پروس پلی سیلیکان متخلخل و لایه نازک فتالوسیانین لایه نشانی شده بر آن

عنوان مقاله: مشخصه یابی و بررسی خواص الکتریکی نانو ساختار پروس پلی سیلیکان متخلخل و لایه نازک فتالوسیانین لایه نشانی شده بر آن
شناسه ملی مقاله: THINFILM01_003
منتشر شده در اولین کنفرانس ملی نو آوری ها در پردازش لایه های نازک و مشخصه های آنها در سال 1390
مشخصات نویسندگان مقاله:

محمد اسماعیل عظیم عراقی - گروه فیزیک دانشگاه تربیت معلم ، تهران
آرمینه کروتی - گروه فیزیک دانشگاه تربیت معلم ، تهران

خلاصه مقاله:
بررسی حساسیت پروس پلی سیلیکون و لایه ی نازکی از فتولوسیانین فلزی لایه نشانی شده برروی آن نسبت به افزایش دما به روش تغییر ولتاژ و اندازه گیری جریان در هر دما صورت می گیرد.فتالوسیانین فلزیی که در اینجا استفاده شده است،فتالوسیانین سرب است.این دو قطعه حساسیت های متفاوتی را نسبت به دما از خود نشان می دهند.

کلمات کلیدی:
پروس،پلی سیلیکون،فتالوسیانین،لایه نازک

صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://civilica.com/doc/220754/