امین رضا بنی اسدی - دانشکده مهندسی و علم مواد، دانشگاه صنعتی شریف
علی قاسمی - دانشکده مهندسی مواد، دانشگاه صنعتی مالک اشتر، شاهین شهر
علی نعمتی - دانشکده مهندسی و علم مواد، دانشگاه صنعتی شریف

در این پژوهش با استفاده از مواد اولیه کلریدی و روش همرسوبی، ذرات هگزافریت استرانسیم با تر کیب شیمیایی (x=0,1,2) SrFe12-xTix/2Znx/2O19تهیه شدند. به منظور بررسی تلفات انعکاس، کامپوزیتهای رزین - فریت با 70 درصد وزنی فریت تحت دمای 220 درجه سانتیگراد و فشار 50 مگاپاسکال با ضخامت 1/8 میلیمتر ساخته شد. پراش سنج پرتو ایکس (XRD)، میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی (FE-SEM)، مغناطومتر ارتعاشی نمونه (VSM) و تحلیلگر شبکه برداری (VNA) برای بررسی خواص ساختاری، مغناطیسی و مایکروویو ذرات فریت استرانسیم به کار گرفته شد. نتایج XRD نشان داد که ذرات سنتز شده، تک فاز مگنتوپلومبیت است. اندازه ی ذرات با استفاده از تصاویر میکروسکوپی الکترونی 1 تا 3 میکرومتر تخمین زده شد و این تصاویر نشان دادند که مورفولوژی ذرات، مخلوطی از ذرات صفحه ای هگزاگونالی و ذرات بی قاعده است. درصد اتمی عناصر به دست آمده با آنالیز EDS، با درصد اتمی تئوری مطابقت مناسبی دارد. حضور آلاینده در ساختار موجب افزایش مغناطش اشباع به 41emu/g و سپس کاهش آن به 34emu/g گشته است همچنین وادارندگی از 2220Oe به 451Oe کاهش پید ا کرده است. همچنین با وارد شدن کاتیونهای روی و تیتانیم در ساختار هگزاگونالی، میزان تلفات انعکاس به 36/58dB- رسیده و پهنای باند جذب با معیار 10dB- به 6GHz افزایش پیدا کرده است.

هگزافریت استرانسیم، همرسوبی، مغناطش اشباع، وادارندگی، تلفات انعکاس، پهنای باند جذب