CIVILICA We Respect the Science
(ناشر تخصصی کنفرانسهای کشور / شماره مجوز انتشارات از وزارت فرهنگ و ارشاد اسلامی: ۸۹۷۱)

اثر تنش و کشش بلوری در ساختار باندهای انرژی لایه های نازک نیمه هادی InGaAs

عنوان مقاله: اثر تنش و کشش بلوری در ساختار باندهای انرژی لایه های نازک نیمه هادی InGaAs
شناسه ملی مقاله: SCMI14_068
منتشر شده در چهاردهمین همایش بلور شناسی و کانی شناسی ایران در سال 1385
مشخصات نویسندگان مقاله:

آوازه هاشملو - دانشگاه آزاد اسلامی واحد تهران مرکزی
مهدی اسکویی - دانشگاه صنعتی شریف

خلاصه مقاله:
در رشد لایه های نازک نیمه هادی و استفاده آنها در صنعت لیزرهای نیمه هادی بدلیل ناخوانا بودن ثابت شبکه های بلوری در لایه های رشد داده شده، تنش و کشش ایجاد می شود که خود باعث تغییر ساختار باندها و زیر باندهای انرزی در بلور نیمه هادی می گردد. برای محاسبه باندها وزیر باندها از اثر جهت شدگی اربیت – اربیت برای زیر باندهای حفره – سنگین (HH) و حفره – سبک (LH) ظرفیت صرفنظر نکرده ایم، اما از جفت شدگی اسپین – اربیت دوزیر باند ذکرشده با زیر باند شکافتی در K=0 چشم پوشی کرده ایم؛ زیرا انرژی شکافتی بین این با ند و باندهای ذکر در حدی است که در فرایندهایی مانند بهره در لیزرهای نیمه هادی شرکت نمی کند و یا نقش بسیار کوچکی دارد.

صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://civilica.com/doc/34032/