CIVILICA We Respect the Science
(ناشر تخصصی کنفرانسهای کشور / شماره مجوز انتشارات از وزارت فرهنگ و ارشاد اسلامی: ۸۹۷۱)

بررسی آزمایشگاهی تأثیرات دما و شدت میدان الکتریکی برکشش سطحی محلول نانو سورفکتانت کاتیونی

عنوان مقاله: بررسی آزمایشگاهی تأثیرات دما و شدت میدان الکتریکی برکشش سطحی محلول نانو سورفکتانت کاتیونی
شناسه ملی مقاله: NIPC03_115
منتشر شده در سومین همایش ملی نفت و گاز و صنایع وابسته در سال 1394
مشخصات نویسندگان مقاله:

محمد مهدی سامی - دانشجوی کارشناسی ارشد مهندسی شیمی، دانشگاه آزاد اسلامی واحد شیراز
اسدالله ملک زاده - دکتری مهندسی شیمی، استاد یار دانشگاه آزاد اسلامی واحد گچساران

خلاصه مقاله:
در این تحقیق یک مطالعه آزمایشگاهی برای بررسی اثرات تغییر دما و همچنین اعمال شدت میدان الکتریکی متفاوت بر روی ضریب کشش سطحی محلول نانو سورفکتانت کاتیونی انجام گرفته است محلول نانو سورفکتانت استفاده شده در این آزمایش هگزا دسیل تری متیل آمونیووم برماید CTAB بر پایه آب در چهار کسر وزنی 0/03،0/06،0/09.0/12 می باشد تاثیرات اعمال میدان الکتریکی 0V≤ E ≤ 75 V و دما 25و45 درجه سانتی گراد بر روی کشش سطحی محلول نانو سورفکتانت مورد تجزیه و تحلیل قرار گرفت نتایج به خوبی نشان می دهد که در غیاب میدان الکتریکی با افزودن سورفکتانت هگزادسیل تری میتل آمونیوم برماید به سیال پایه کشش سطحی کاهش می باشد با اعمال میدان الکتریکی کشش سطحی نانو سورفکتانت هگزادسیل تری میتل آمونیوم برماید روند افزایشی پیدا می کند.با افزایش دمای نانو سورفکتانت از 25 درجه سانتیگراد به 45 درجه سانتی گراد کشش سطحی کاهش می یابد

کلمات کلیدی:
نانو سورفکتانت،میدان الکتریکی،هگزا دسیل تری متیل آمونیوم برماید CTAB،کشش سطحی

صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://civilica.com/doc/418335/