CIVILICA We Respect the Science
(ناشر تخصصی کنفرانسهای کشور / شماره مجوز انتشارات از وزارت فرهنگ و ارشاد اسلامی: ۸۹۷۱)

بررسی لیتوگرافی و اچینگ در طراحی نیمه هادی های با کیفیت بهتر

عنوان مقاله: بررسی لیتوگرافی و اچینگ در طراحی نیمه هادی های با کیفیت بهتر
شناسه ملی مقاله: COMCONF02_217
منتشر شده در دومین کنفرانس بین المللی یافته های نوین پژوهشی در مهندسی برق و علوم کامپیوتر در سال 1395
مشخصات نویسندگان مقاله:

سیدجواد جوادی مقدم - عضو هیئت علمی دانشگاه پیام نور
علی اکبری مجد - دانشجوی کارشناسی ارشد شده الکترونیک دانشگاه پیام نور تهران - تهران شمال

خلاصه مقاله:
برای تولید مدار مجتمع از فیلم های باریک با مواد مختلف، به عنوان لایه های محافظ جهت افزودن و یا کشت اتم های ناخالصی و یا به عنوان عایق عیان مواد رسانا و سیلیکون زیر لایه استفاده می شود و ماسک ها شامل الگویی از پنجره هایی هستند که تحت فرایندی که فتولیتوگرافی خوانده می شود به روی سطح سیلیکون منتقل می شوند.فتولیتوگرافی تعام مراحل درگیر در انتقال الگو از یک ماسک برروی سطح سیلیکون و بیقرراداراعی باشد. یکی از شرایط و فرایند مهم تهیه و بیقرهای پاک در اتاق پاک و تمیز می باشد. پاکسازی و بفر خود به قتهایی یک قرایند دقیقی را طلب می کند. تمیزی سطح ویفر برای تنظیم ماسک جهت انجام پخت های نرم وسخت، ایجاد لایه محافظ بافتور زیست، تمیز کردن تعام پنجره ها، تابشی نور به فتور زیست،انجام مراحل مختلف اچینگ ودرنہایت حذف تمام فتور زیست هامی تواند مارادرطراحی ایک نیمه هاری خوب و با کیفیت بالاو هم چنین در تهیه یک عدار مجتمع قابل قبول و بهره برداری از آن برای پروژه های عظیم الکترونیکی یاری نماید. در صورت اجرای دقیق شرایط ۱۰گانه فرآیند لیتوگرافی یک نیمه هادی با کیفیت قابل قبول می توان ارائه داد.

کلمات کلیدی:
لیتو گرافی. Etchingقتور زیست.Masksسیلیکون.WafeI.oxide.اتاق تمییز، فتوملک۔bakin

صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://civilica.com/doc/546026/