CIVILICA We Respect the Science
(ناشر تخصصی کنفرانسهای کشور / شماره مجوز انتشارات از وزارت فرهنگ و ارشاد اسلامی: ۸۹۷۱)

بررسی اثر برخی از پارامترهای لایه نشانی چرخشی بر روی ضخامت پلیمر ها به روش طیف سنجی

عنوان مقاله: بررسی اثر برخی از پارامترهای لایه نشانی چرخشی بر روی ضخامت پلیمر ها به روش طیف سنجی
شناسه ملی مقاله: ICOPTICP15_136
منتشر شده در پانزدهمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران در سال 1387
مشخصات نویسندگان مقاله:

حجت امرالهی بیوکی - دانشکده فیزیک ، گروه اتمی مولکولی ، دانشگاه یزد
محمود برهانی زرندی - دانشکده فیزیک ، گروه اتمی مولکولی ، دانشگاه یزد
غضنفر میر جلیلی - دانشکده فیزیک ، گروه اتمی مولکولی ، دانشگاه یزد
محمد رضا ناطقی - دانشگاه آزاد اسلامی واحد یزد ، دانشکده شیمی ، یزد

خلاصه مقاله:
لایه نازک ترکیب آلی به روش لیه نشانی چرخشی با سرعتهای چرخش گوناگون وغلظتهای گوناگون تهیه شد طیف نوری لایه ها درناحیه نورمرئی مورد مطالعه قرارگرفت ضخامت لایه ها طبق قله طیف چذبی نزدیک به nm 413 تخمین زده شد قله های جذب متناسب با سرعت چرخش و غلظت محلول مورد بررسی قرارگرفت رابطه بین ضخامت فیلم وسرعت زاویه دوران ازرابطه فرمول درمتن اصلی مقاله پیروی می کند که با نظریه مکانیسم لایه نشانی چرخشی سازگاراست با افزایش غلظت محلول لایه ضخیم تری داشتیم که این احتمالا به دلیل افزایش ویسکوزیته سیال می باشد .

کلمات کلیدی:
لایه نازک ، طیف جذبی ، لایه نشانی پرخشی ، سیال نیوتنی ، سیال غیر نیوتنی

صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://civilica.com/doc/65070/