CIVILICA We Respect the Science
(ناشر تخصصی کنفرانسهای کشور / شماره مجوز انتشارات از وزارت فرهنگ و ارشاد اسلامی: ۸۹۷۱)

بررسی خواص الکترونیکی نانوصفحه ی روی سولفید (ZnS) با استفاده از نظریه تابعی چگالی

عنوان مقاله: بررسی خواص الکترونیکی نانوصفحه ی روی سولفید (ZnS) با استفاده از نظریه تابعی چگالی
شناسه ملی مقاله: NCNTA06_028
منتشر شده در ششمین همایش ملی فناوری نانو از تئوری تا کاربرد در سال 1396
مشخصات نویسندگان مقاله:

محمود جعفری - دانشیار دانشگاه خواجه نصیر الدین طوسی، دانشکده فیزیک، تهران
خدیجه علوانی - کارشناسی ارشد فیزیک حالت جامد، دانشکده فیزیک، دانشگاه خواجه نصیر الدین طوسی

خلاصه مقاله:
در این مطالعه خواص الکترونیکی نانو صفحه ی روی سولفید که یک نیمه رسانای مهم و پرکاربرد می باشد، با استفاده از نظریه تابعی چگالی و با تقریب PBE-GGA محاسبه کرده و با بررسی نتایج به دست آمده از محاسبات نشان داده ایم که روی سولفید دارای یک منطقه ممنوعه ی پهن به مقدار 2,525 الکترون ولت است که با نتایج تجربی و سایر کارهای گزارش شده مطابقت خوبی دارد.

کلمات کلیدی:
نظریه تابعی چگالی، خواص الکترونیکی، نانوصفحه ی روی سولفید، شبه گرافن

صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://civilica.com/doc/773933/