CIVILICA We Respect the Science
(ناشر تخصصی کنفرانسهای کشور / شماره مجوز انتشارات از وزارت فرهنگ و ارشاد اسلامی: ۸۹۷۱)

طیف سنجی پراکندگی انرژی پرتو ایکس (EDS)

عنوان مقاله: طیف سنجی پراکندگی انرژی پرتو ایکس (EDS)
شناسه ملی مقاله: JR_NAISL-1-2_002
منتشر شده در شماره 2 دوره 1 فصل زمستان در سال 1396
مشخصات نویسندگان مقاله:

محمد پرستگاری - کارشناس مسیول مجتمع آزمایشگاهی مرکزی، شهرک علمی و تحقیقاتی اصفهان
مایده فولادگر - کارشناس آزمایشگاه مواد، شهرک علمی و تحقیقاتی اصفهان

خلاصه مقاله:
شناسایی فاز های موجود در ریز ساختار ماده از طریق ترکیب شیمیایی، نقش به سزایی در شناخت وتعیین فاز های مجهول ایفا می کند. طیف سنجی پراکندگی انرژی پرتو ایکس (EDS) برای تجزیه و تحلیل ساختاری و آنالیز عناصر موجود در نمونه به کار می رود و با نصب آن بر روی میکروسکوپ های الکترونیمی توان با مطالعه پرتو هاى بازگشتى از نمونه و تعیین پرتو ایکس مشخصه هر عنصر، با استفاده از قدرتتفکیک و قابلیت بزرگنمایى مختلف، آنالیز کیفى و کمى را بر روی طیف وسیعی از نمونه ها انجام داد. دراین مقاله ضمن توضیح نحوه عملکرد و معرفی بخش های مختلف سیستم های EDS، مزایا و معایب این روش به طور کامل شرح داده شده است.

کلمات کلیدی:
طیف سنجی پراکندگی انرژی، پرتو ایکس (EDS)، میکرو آنالیز، آشکارساز، پرتو ایکس مشخصه، آنالیز نقطه ای

صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://civilica.com/doc/836184/