عطاءالله کوهیان - دانشگاه تهران
اسماء السادات معتمدی - پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای، تهران
مهسا اطمینان - دانشگاه تهران
فرشته حاج اسماعیل بیگی - پژوهشگاه علوم هسته ای، تهران و فنون

  در این مقاله لایه­های نازک نانوساختار مس و روی به روش لایه نشانی لیزر پالسی تهیه شده­ و ضرایب جذب و شکست غیرخطی این لایه ها با استفاده از روش روبش- z اندازه­گیری و بررسی شده است. جزئیات پارامترهای لایه نشانی لیزر پالسی برای هر دو فلز مس و روی ارائه شده است. برای انجام آزمایش روبش- z از لیزر موج   اندازه ضریب جذب و ضریب شکست غیرخطی لایه­های نازک نانوساختاری مس و روی به کمک نمودارهای آزمایش روبش- z محاسبه شده است.    پیوسته با طول موج 532 نانومتر و توان 130 میلی وات استفاده کردیم. علامت و

لایه نشانی لیزر پالسی, لایه های نازک نانوساختاری, ضریب جذب غیرخطی, ضریب شکست غیرخطی