بررسی اثر عمق عیب در بازرسی به روش نشتی شار مغناطیسی
عنوان مقاله: بررسی اثر عمق عیب در بازرسی به روش نشتی شار مغناطیسی
شناسه ملی مقاله: ICTINDT05_011
منتشر شده در پنجمین کنفرانس بینالمللی آزمونهای غیرمخرب ایران در سال 1397
شناسه ملی مقاله: ICTINDT05_011
منتشر شده در پنجمین کنفرانس بینالمللی آزمونهای غیرمخرب ایران در سال 1397
مشخصات نویسندگان مقاله:
محمد ملک زاده - دانشجوی کارشناسی ارشد، دانشکده مهندسی مکانیک پردیس دانشکده های فنی دانشگاه تهران؛
محمدرضا فراهانی - دانشیار، دانشکده مهندسی مکانیک پردیس دانشکده های فنی دانشگاه تهران
محمود موسوی مشهدی - استاد، دانشکده مهندسی مکانیک پردیس دانشکده های فنی دانشگاه تهران
خلاصه مقاله:
محمد ملک زاده - دانشجوی کارشناسی ارشد، دانشکده مهندسی مکانیک پردیس دانشکده های فنی دانشگاه تهران؛
محمدرضا فراهانی - دانشیار، دانشکده مهندسی مکانیک پردیس دانشکده های فنی دانشگاه تهران
محمود موسوی مشهدی - استاد، دانشکده مهندسی مکانیک پردیس دانشکده های فنی دانشگاه تهران
آزمون نشت شار مغناطی سی یکی از روش های آزمون های غیر مخرب است که برای بازرسی قطعات فرومغناطیس استفاده می گردد. از این آزمون برای بازرسی خطوط انتفال نفت وگاز و کف مخازن استفاده می شود. این آزمون به واسطه توانایی بازرسی از روی سطح عایق روشی اقتصادی است. در این روش ابتدا مواد فرو مغناطیسی توسط یک آهن ربای دائمی تا ناحیه اشباع، مغناطیس می شوند. سپس درصورت وجود هر نوع نقص در ماده، مقداری از چگالی شار مغناطیسی در آن محل به فضای اطراف نشت می کند. این تغییرات توسط یک حسگر و یا یک دوربین مغناطیسی ثبت و به کامپیوتر ارسال می گردد. در این مقاله، روش نشت شار مغناطیسی برای بررسی اثر افزایش عمق در یک نقص مربعی شکل به صورت سه بعدی به روش المان محدود شبیه سازی گردید. نتایج شبیه سازی نشان داد که در یک نقص مربعی شکل با مساحت سطح 25 میلیمتر مربع، به ازای هر یک میلیمتر افزایش عمق، میزان نشتی شار مغناطیسی به طور میانگین 3/3 میلی تسلا افزایش می یابد.
صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://civilica.com/doc/867340/