عباس بهادری مرغزار - دانشجوی کارشناسی ارشد، دانشکده فیزیک، دانشگاه سمنان، سمنان، ایران
نفیسه معماریان - استادیار، دانشکده فیزیک، دانشگاه سمنان، سمنان، ایران
حمیدرضا قلی پور دیزجی - استاد، دانشکده فیزیک، دانشگاه سمنان، سمنان، ایران
مریم علیان نژادی - استادیار، دانشکده فیزیک، دانشگاه سمنان، سمنان، ایران

در این تحقیق دو نمونه با شش و هفت بار لایه نشانی به روش پوشش دهی چرخشی بر روی زیرلایه های شیشه ای تهیه گردید. نمونه ها ابتدا تحت شار اکسیژن در دمای ۵۰۰ºC کلسینه گردیدند و سپس به کمک پراش پرتوایکس (XRD)، میکروسکوپ الکترون روبشی (FESEM) و پراش انرژی پرتوایکس (EDAX) مورد بررسی قرار گرفته است. نتایج بررسی XRD نشان می دهد که ساختار بلوری هر دو نمونه فاز مکعبی می باشد. افزایش تعداد دفعات لایه نشانی باعث افزایش اندازه بلورک ها می شود. همچنین با توجه به تصاویر FESEM مشاهده شد که با افزایش تعداد دفعات لایه نشانی، دانه ها بزرگ تر و یکنواختی سطح کمتر شده است. آزمایش EDAX نشان داد نمونه های تهیه شده فاقد ناخالصی می باشند. خواص اپتیکی این لایه ها، با استفاده از تحلیل طی فسنج مرئی-فرابنفش انجام شده و نتایج نشان می دهد که با افزایش تعداد دفعات لایه نشانی، میزان عبور و اندازه گاف اپتیکی، کاهش می یابد.

سل ژل، پوشش دهی چرخشی، اکسید منگنز