CIVILICA We Respect the Science
(ناشر تخصصی کنفرانسهای کشور / شماره مجوز انتشارات از وزارت فرهنگ و ارشاد اسلامی: ۸۹۷۱)

اثرناخالصی فسفرP برروی خواص ساختاری الکتریکی واپتیکی لایه های نازک نیمرسانای FTO

عنوان مقاله: اثرناخالصی فسفرP برروی خواص ساختاری الکتریکی واپتیکی لایه های نازک نیمرسانای FTO
شناسه ملی مقاله: IPC93_240
منتشر شده در کنفرانس فیزیک ایران 1393 در سال 1393
مشخصات نویسندگان مقاله:

الهام مکاری پور - آزمایشگاه تحقیقاتی حالت جامد دانشکده فیزیک دانشگاه دامغان
محمدمهدی باقری محققی - آزمایشگاه تحقیقاتی حالت جامد دانشکده فیزیک دانشگاه دامغان
حسن عظیمی جویباری - آزمایشگاه تحقیقاتی حالت جامد دانشکده فیزیک دانشگاه دامغان

خلاصه مقاله:
دراین تحقیق لایه های نازک FTO باناخالصی فسفر به روش اسپری پایرولیزیز برروی بسترهای شییشه ای تهیه شده وتراز ناخالصی فسفربانسبت اتمی [P]/[Sn]=0/1-10 درمحلول اولیه تغییر داده شداثرحضورناخالصی فسفربرروی خواص ساختاری الکتریکی واپتیکی لایه های نازک FTO:P بررسی شدنتایج نشان می دهد که باافزودن ناخالصی فسفرلایه ها دارای ساختاربس بلوری بافازاصلی SnO2 می باشند مقاومت سطحی لایه ها نیزدرنسبت مولی P/Sn= % 1;کمترین مقداررا نشان میدهد با افزایش تراکم ناخالصی شفافیت لایه ها نیز افزایش می یابد که بیشترین شفافیت اپتیکی لایه های FTO باناخالصی P درحدود 60درصد درناحیه مرئی بدست می آید

صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://civilica.com/doc/960153/