CIVILICA We Respect the Science
(ناشر تخصصی کنفرانسهای کشور / شماره مجوز انتشارات از وزارت فرهنگ و ارشاد اسلامی: ۸۹۷۱)

مروری بر روش های کاهش خطای نرم در آرایه برچسب حافظه نهان

عنوان مقاله: مروری بر روش های کاهش خطای نرم در آرایه برچسب حافظه نهان
شناسه ملی مقاله: ICIKT10_018
منتشر شده در دهمین کنفرانس فناوری اطلاعات و دانشIKT2019 در سال 1398
مشخصات نویسندگان مقاله:

محمدجواد شهنوازی - دانشگاه شهید باهنر کرمان
مهدیه قزوینی - دانشگاه شهید باهنر کرمان
بهنام قوامی - دانشگاه شهید باهنر کرمان

خلاصه مقاله:
فضای اشغال شده توسط حافظه نهان در واحدهای پردازشگر گرافیکی یا واحدهای پردازشگر مرکزی 2 شامل بخش بزرگی می شود که دائم مورد دسترسی قرار می گیرد. حافظه نهان از تعداد زیادی ترانزیستور تشکیل شده که با توجه به اندازه کوچک و ولتاژ کاری پایین به خطاهای گذرا حساس می باشند. واژگونی بیت های برچسب 4 حافظه نهان باعث ایجاد FalseHit می شوند. رویداد FalseHit علاوه بر شکست باعث خروجی نادرست برنامه خواهد شد. در این مقاله روش های کاهش خطای نرم در برچسب را مروری می کنیم.

کلمات کلیدی:
و FalseHit، آرایه برچسب، بافر کپی برچسب، توابع درهم ساز، بیت های یکسان، معماری HBAM

صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://civilica.com/doc/982254/