سنتز اکسیدگرافن به روش هامرز اصلاح شده: بررسی تاثیر تغییر پارامترهای مواد اولیه و فرایندی بر روی فاز نهایی

گرافن را می توان به عنوان یکی از پیشرفته ترین موادی به حساب آورد که پژوهشگران توانستند به آن دست پیدا کنند. روش هایمتفاوتی برای سنتز این ماده معرفی شده و که در این بین ساده ترین روش، روش هامرز اصلاح شده است. با وجود سادگی اینروش، به دلیل تکرارپذیری پایین این روش، تحقیقات بسیاری پیرامون تثبیت نتایج حاصل در این روش سنتز صورت گرفتهاست. با این وجود به دلیل وابستگی شدید کیفیت گرافن سنتز شده به این روش به مواد اولیه و شرایط محیطی و پارامترهایفرایند، همچنان نیاز به انجام آزمایش های گوناگون جهت دستیابی به محصول با کیفیت نیاز است. در پژوهش پیشرو سعی براین شده است که تاثیر تغییر دو پارامتر (یک مورد از پارامترهای مربوط به مواد اولیه و یک مورد از پارامترهای مربوط به فرایند)مورد بررسی قرار گرفته شود. بنابراین تاثیر اسید سولفوریک و مدت زمان سنتز اکسید گرافن بر روی فاز نهایی بدست آمده ازروش هامرز اصلاح شده بررسی شد. آزمایش های پراش پرتو ایکس، طیف سنجی رامان، طیف سنجی DLS و طیف سنجی تبدیلمادون قرمز جهت بررسی موفقیت آمیز بودن تغییرات اعمالی در روش سنتز انجام گرفتند. نتایج آزمایش پراش اشعه ایکس نشانمی دهد که با افزایش مدت زمان سنتز، هیچ گرافیتی در این طیف مشاهده نمی شود و سنتز به صورت کامل صورت گرفته است.همچنین نتایج نشاندهنده کاهش ضخامت لایه اکسید گرافنی بدست آمده با افزایش مدت زمان سنتز و مقدار اسید سولفوریکاست. در نهایت مورفولوژی اکسید گرافن بدست آمده توسط میکروسکوپ الکترونی روبشی مورد بررسی قرار گرفته و ضحامتنمونه نهایی در حدود 35 نانومتر بدست آمد.