نگاهی به مبانی پراش اشعه ایکس (مقدمه ای کوتاه به XRD و XRF)
سال انتشار: 1400
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,108
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
MMICONF08_053
تاریخ نمایه سازی: 23 شهریور 1400
چکیده مقاله:
؛XRD یا همان پراش اشعه ایکس (X-Ray Diffraction) تکنیکی قدیمی و پرکابرد در بررسیخصوصیات کریستال ها می باشد. در این روش از پراش اشعه ایکس توسط نمونه جهت بررسیویژگی های نمونه استفاده می شود.تکنیک XRD برای تعیین عموم کمیات ساختار کریستالی از قبیل ثابت شبکه، هندسه شبکه،تعیین کیفی مواد ناشناس، تعیین فاز کریستال ها، تعیین اندازه کریستال ها، جهت گیریتک کریستال، استرس، تنش، عیوب شبکه و غیره، قابل استفاده می باشد. در این مقاله ابتدا بااساس کار XRD و سپس با اجزا XRD و همچنین XRF آشنا خواهیم شد.
کلیدواژه ها:
بلورشناسی ، کریستالوگرافی ، طیف سنجی فلورسانس ، پرتو ایکس ، XRD ، بلورنگاری پرتو ایکس ، XRF ، بلور ، کریستال ، رشد بلور
نویسندگان
پوریا زرشناس
کارشناسی ارشد شیمی معدنی، دانشکده علوم شیمی و نفت - دانشگاه شهید بهشتی