تابناکی و خواص اپتیکی غیرخطی لایه نازک سولفید روی آلاییده با مس
محل انتشار: فصلنامه کارافن، دوره: 18، شماره: 0
سال انتشار: 1400
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: فارسی
مشاهده: 129
فایل این مقاله در 14 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
JR_KARFN-18-0_011
تاریخ نمایه سازی: 31 شهریور 1400
چکیده مقاله:
در این پژوهش، با استفاده از روش تبخیر حرارتی، لایههای نازک سولفیدروی و سولفیدروی آلاییده شده با غلظتهای۳، ۴ و ۷ درصد مس، لایهنشانی شدند و خواص اپتیکی خطی و غیرخطی نمونهها با استفاده از طیف سنج جذبی مرئی- فرابنفش (UV-Vis)، طیف فوتولومینسانس (PL) و دستگاه روبش تک محوری (Z-Scan) اندازه گیری و تجزیه وتحلیل شدند. همچنین خواص ساختاری نمونه ها با استفاده از پراش پرتو ایکس (XRD) و تحلیل کمی داده ها بررسی شد. پیک های حاصل از نمودارها نشان می دهند که ناخالصی های موجود در لایههای نازک سولفیدروی، منجر به فاز جدیدی در نمونه ها نشده ولی شدت نسبی قلهها افزایش یافته است. با استفاده از داده های اندازه گیری شده حاصل از طیف جذبی، مقادیر جذب و گاف انرژی نانوساختار سولفیدروی و سولفیدروی آلاییده شده با مس محاسبه شدند. طیف فوتولومینسانس نشان می دهد با افزایش غلظت یون های مس شدت PL کاهش می یابد. اندازه گیری های اپتیکی غیرخطی با استفاده از لیزر موج پیوسته در طول موج nm ۵۳۲ برای روزنه باز و بسته نشان میدهد که ضریب جذب غیرخطی برای فیلم سولفیدروی، مثبت و برای فیلم های نازک سولفید روی آلاییده شده با مس منفی است. همچنین، با افزایش غلظت ضریب شکست و جذب غیرخطی افزایش می یابند.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
اسماعیل شهریاری
استادیار، گروه فیزیک، دانشگاه فنی و حرفه ای، تهران، ایران.
امین معتمدی نسب
استادیار، گروه فیزیک، دانشگاه فنی و حرفه ای، تهران، ایران.
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :