طراحی و شبیه سازی یک IC منطبق با استاندارد IEEE1149.1 برای تستجاروب مرزی وارائه محدودیت های آن
محل انتشار: دهمین کنفرانس دانشجویی مهندسی برق ایران
سال انتشار: 1386
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,112
فایل این مقاله در 7 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ISCEE10_005
تاریخ نمایه سازی: 7 آذر 1390
چکیده مقاله:
دسترسی به نقاط تست در سطح وسیع و کامل در هنگام تست بردهای مدارچاپی از اهداف مهم در طراحی یک برد مدارچاپی محسوب می شود زمانی که دسترسی به نقاط تست درروی برد مدار چاپی کامل نباشد دراین صورت روشهای تست معمول برای تست بردهای مدارچاپی کارایی لازم را نخواهد داشت بنابراین باید شیوه جدیدی جهت تست جستجو کرد روش پیشنهادی در این مقاله تست بردهای مدارچاپی که المان آنها منطبق بر استاندارد IEEE1149.1 هستند را با استفاده از چهارخط خط پنجم اختیاری و بدون نیازبه دسترسی فیزیکی مقدور می سازد IC های به کاررفته در طراحی بردهایی که با استفاده از این روش تست می شوند باید دارای ساختمان خاصی باشند تا بتوانند دستورالعملهایی که دراین استاندارد تعریف می شوند را اجرا کنند.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
سمیه رحمانی خوجین
مرکز تحقیقات مخابرات ایران
سعید گل محمدی هریس
دانشگاه تربیت مدرس تهران گروه الکترونیک
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :