بررسی تاثیر ضخامت روی گاف انرژی ، توپوگرافی و خواص ساختاری سطح فیلم های مس -کبالت

سال انتشار: 1400
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 285

فایل این مقاله در 6 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

SCMI29_118

تاریخ نمایه سازی: 14 فروردین 1401

چکیده مقاله:

نانوذرات مس و مس -کبالت با استفاده ازسیستم پاشش مگنترون جریان مستقیم بر روی بسترهای سیلیکونی جمع آوری شد. نانوذرات مس با ضخامت ۷۰ نانومتر دارای نانوذرات بزرگتر از مس با ضخامت ۶۰ نانومتر هستند. با لایه های نازک کبالت -مس تغلیظ شده، نانو ذرات به یکدیگر نزدیک هستند و با افزایش ضخامت کبالت ، اندازه نانو ذرات کاهش می یابد. شکاف باند به دست آمده برای چهار نمونه فیلم های مس با مس ۶۰نانومتر، فیلم های مس با ۷۰ نانومتر، لایه نازک Cu-Co با کبالت ۴۰ نانومتر و با ۷۰ نانومتر به ترتیب ۶۸ /۳، ۷۱/۳، ۷۵/ ۳، و ۱/۳ الکترون ولت است مشاهده شد که با افزایش ضخامت مس و کبالت در فیلم نازک مس -کبالت ، لبه جذب به سمت طول موجهای بالاتر می رود.

نویسندگان

علی اکبر امیدی مجد

دانشگاه ملایر، دانشکده علوم، گروه فیزیک

نسیم رحیمی

دانشگاه ملایر، دانشکده علوم، گروه فیزیک

ولی دلوجی

دانشگاه ملایر، دانشکده علوم، گروه فیزیک