بررسی اثر نوسانات ولتاژ بر کیفیت پرتوهای اشعه ایکس در محدوده انرژی رادیولوژی تشخیصی
محل انتشار: فصلنامه سنجش و ایمنی پرتو، دوره: 8، شماره: 4
سال انتشار: 1399
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: فارسی
مشاهده: 371
فایل این مقاله در 6 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
JR_RSM-8-4_036
تاریخ نمایه سازی: 15 فروردین 1401
چکیده مقاله:
هدف از مطالعه حاضر، بررسی اثر نوسانات ولتاژ حاصل از دستگاه های تولید کننده اشعه ایکس بر کیفیت پرتوهای اشعه ایکس می باشد. برای رسیدن به این موضوع باید ابندا طیف انرژی حاصل از تیوب های تولید کننده اشعه ایکس در محدوده رادیوگرافی تشخیصی شبیه سازی شده و با نتایج تجربی اندازه گیری شده، صحت سنجی شود. آنالیز آماری انجام گرفته روی نتایج نشان می دهد که تفاوت معنی داری بین نتایج شبیه سازی و نتایج تجربی وجود ندارد. سپس تاثیر ریپل ولتاژ روی طیف انرژی شبیه سازی و بررسی شد. برای بررسی اثر نوسانات ولتاژ بر میزان کیفیت پرتو محاسبات لایه نیم جذب (HVL) انجام گرفت. نتایج حاصل از این تحقیق نشان داد که نوسانات ولتاژ می تواند تا حدود ۵۶% مقدار HVL را در ولتاژ kV۱۰۰ و در حدود ۷۵% در ولتاژ kV۸۰ کاهش دهد.
کلیدواژه ها:
HVL ، simulation monte carlo ، GATE ، voltage ripple ، energy spectra ، لایه نیم جذب ، شبیه سازی مونت کارلو ، GATE ، نوسانات ولتاژ ، طیف انرژی.
نویسندگان
حسین محمدی
Shahrood University of technology
محمدرضا شجاعی
Shahrood University of technology
جمشید سلطانی نبی پور
Islamic Azad University Parand Branch
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :