ورود
مقالات فارسیISIکنفرانسهاژورنالها

بررسی و مطالعه اثر ترابردی بر ناهمواری سطح تانتالوم با استفاده از کاشت یون پرانرژی آرگون

محل انتشار: فصلنامه علم و مهندسی سرامیک، دوره: 11، شماره: 2
سال انتشار: 1401
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: فارسی
مشاهده: 151

فایل این مقاله در 12 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:
https://civilica.com/doc/1625670

شناسه ملی سند علمی:

JR_IJCSE-11-2_001

تاریخ نمایه سازی: 16 فروردین 1402

چکیده مقاله:

در مطالعه حاضر، اثر ناهمواری فصول مشترکی که در اثر کاشت یونی بر روی سطوح پایه تانتالوم تولید شده اند بررسی شده است. یون های آرگون با انرژی   ۳۰ کیلو الکترون  ولت و در دزهای۱۰۱۷×۱ تا و ۱۰۱۷×۱۰ (یون بر سانتی متر مربع) استفاده شده است. میکروسکوپ نیروی اتمی برای توصیف ریخت شناسی سطح  استفاده شده است . تاثیر ناهمواری لایه های نازک تولید شده از طریق کاشت یونی، هدف از تحقیق میزان احتمال انتقال الکترونی در تانتالوم است. با بمباران یون آرگون تغییر قابل توجهی در  نمونه ها رخ می­دهد از جمله ناهمواری، اندازه دانه، توزیع آن برای نمونه کاشته نشده و نمونه های کاشته شده .سهم اجزای پراکنده احتمال انتقال نمونه هایی که با دزهای پایین تر یون کاشته شده اند، غالب تر از موارد کاشته شده توسط دزهای بزرگ تر است. همچنین بر اساس نتایج با افزایش دز یونی، چگالی جریان لایه های نازک افزایش می یابد. یکی از اثرات اصلی ناهمواری، کاهش احتمال عبور  است. نتایج نشان می­دهد که میزان پراکندگی به واسطه فصول مشترک ناهموار تولید شده با کاشت یون آرگون بیشتر است. به علاوه محاسبات چگالی جریان نتایج مذکور را تایید نموده و میزان چگالی جریان مولفه­های پراکنده شده فصول مشترک ناهموار تولید شده با کاشت یون کمتر است.

کلیدواژه ها:

نویسندگان

امیر هوشنگ رمضانی

In the present study, effect of interfacial roughness on the ion implanted Tantalum based surfaces has been investigated. The argon ions with energy of ۳۰ keV and in doses of ۱×〖۱۰〗^۱۷, ۳×〖۱۰〗^۱۷, ۵×〖۱۰〗^۱۷, ۷×〖۱۰〗^۱۷, and ۱۰×〖۱۰〗^۱۷ (ion/cm۲) have been u

سمیه عسگری

In the present study, effect of interfacial roughness on the ion implanted Tantalum based surfaces has been investigated. The argon ions with energy of ۳۰ keV and in doses of ۱×〖۱۰〗^۱۷, ۳×〖۱۰〗^۱۷, ۵×〖۱۰〗^۱۷, ۷×〖۱۰〗^۱۷, and ۱۰×〖۱۰〗^۱۷ (ion/cm۲) have been u

ژاله ابراهیمی نژاد

In the present study, effect of interfacial roughness on the ion implanted Tantalum based surfaces has been investigated. The argon ions with energy of ۳۰ keV and in doses of ۱×〖۱۰〗^۱۷, ۳×〖۱۰〗^۱۷, ۵×〖۱۰〗^۱۷, ۷×〖۱۰〗^۱۷, and ۱۰×〖۱۰〗^۱۷ (ion/cm۲) have been u

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • Shen, L.R., Wang, K., Tie, J., Tong, H.H., Chen, Q.C., ...
  • F. Hellal, F. Atmani, B. Malki, H. Sedjal, M. Kerkar, ...
  • Y.Z Liu, X.T. Zu., J. Caol Wang, C.Li, X.Q. Haung,. ...
  • B P. Udzynskia, , J. Filiksb, , P.U.Kowskic, Z.K.Iszczakb, , ...
  • S. S. Patila, R.P. Fernandesa, N.K. Patela, P.A.Rayjadab, P.M. Raoleb, ...
  • Patila S.S., Fernandesa R.P., Patela N.K., Rayjadab P.A., Raoleb P.M., ...
  • P.Budzynskia, J.Filiksb, P.ukowskic, Z. Kiszczakb, K. M. Walczaka, Vacuum ۷۸( ...
  • Zh-H. Cui and H. Jiang J. Phys. Chem. C, ۱۲۱و۳۲۴۱–۳۲۵۱ ...
  • Kalyanasundaram, N.; Moore, M.C.; Freund, J.B.; Johnson, H.T. Stress evolution ...
  • Liu, Y.Z.; Zu, X.T.; Cao, J.; Wang, L.; Li, C.; ...
  • Patil, S.S.; Fernandes, R.P.; Patel, N.K.; Rayjada, P.A.; Raole, P.M.; ...
  • De, A.K.; Speer, J.G.; Matlock, D.K.; Murdock, D.C.; Mataya, M.C.; ...
  • Ramezani, A.H.; Sari, A.H.; Shokouhy, A. The effects of argon ...
  • Ghosh, K.; Pandey, R.K. Fractal assessment of ZnO thin films ...
  • Ogilvy, J.A.; Foster, J.R. Rough surfaces: Gaussian or exponential statistics? ...
  • Ebrahiminejad, Zh.; Masoudi, S.F.; Jafari, G.R.; Dariani, R.S. Effects of ...
    • نمایش کامل مراجع