ساخت سلولهای خورشیدی لایه نازک جهت کاربردهای صنعتی

با استفاده از روش های گوناگون در فضای واقعی مانند میکروسکوپ نیروی اتمی می توانیم اطلاعات ارتفاع سطح را بدست آوریم. این اطلاعات معمولا بصورت عددی می باشد که با روش های مختلفی می توان این داده ها را تحلیل کرد از جمله این روش ها ریشه میانگین مربعات انحراف از تراز مرجع است. ریشه میانگین مربعات انحراف از تراز مرجع یا پهنای فصل مشترک نامیده می شود. با تحلیل آماری می توان ویژگی های مورفولوژی سطح و فرآیند پویشی رشد را بطور کمی مورد بررسی قرار داد. تابع همبستگی ارتفاع-ارتفاع می تواند ویژگی های آماری را به تفصیل توصیف کند. تابع همبستگی ارتفاع-ارتفاع Hexp) r) در امتداد راستای پویش سریع (راستای x) با رابطه ی زیر تعریف می شود.