بررسی آزمون و ارزیابی مقاومت تشعشعی TID ترانزیستورهای GaN در برد تقویت کننده SSPA جهت بکارگیری در محموله ماهواره LEO

سال انتشار: 1402
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: فارسی
مشاهده: 137

فایل این مقاله در 16 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

JR_JSST-16-1_006

تاریخ نمایه سازی: 6 خرداد 1402

چکیده مقاله:

با ظهور فناوری GaN، دست یابی به توان مایکروویو با استفاده از ادوات حالت جامد و با بازدهی بالا، بیش از پیش میسر شده است. لذا استفاده از تقویت کننده های SSPA با فناوری GaN در ماهواره ها به خصوص ماهواره های LEO، مورد توجه قرار گرفته است. از طرفی، تشعشعات فضایی می تواند بر عملکرد و قابلیت اطمینان قطعات موجود در سامانه های فضایی تاثیرگذار باشد که لازم است مورد بررسی قرار گیرد. به منظور صحه گذاری بر امکان استفاده از ترانزیستورهای GaN در ماهواره های LEO لازم است اثرات تابشی بر روی این تزانزیستورها بررسی شود. در این مقاله به بررسی اثر TID بر ترانزیستورهای GaN در برد تقویت کننده SSPA به همراه برد توالی ساز آن، پرداخته شده است. از آنجائیکه در نمونه مهندسی تقویت کننده SSPA از قطعات تجاری استفاده شده است و محاسبات حاصل از تخمین های RDM تحت بدترین شرایط نشان می دهد که انجام آزمون برای این قطعات الزامی است، آزمون بررسی مقاومت تشعشعی برای این تقویت-کننده انجام شد. نتایج آزمون نشان می دهد که برد SSPA GaN تا دز تقریبا krad ۱۶ دارای قابلیت تحمل تشعشعی است. بنابراین ترانزیستورهای تطبیق نیافته GaN، تا این مقدار از دز، مقاوم هستند. این درحالی است که برد توالی ساز عملا دارای قدرت تحمل کمتر از krad ۵/۵ می باشد.

نویسندگان

رقیه کریم زاده بائی

استادیار گروه ارتباطات ماهواره ای، پژوهشکده فناوری ارتباطات، پژوهشگاه ارتباطات و فناوری اطلاعات، تهران، ایران

حمیده دانشور

گروه پژوهشی پرتوفرآوری و دزیمتری، پژوهشکده کاربرد پرتوها، پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای، سازمان انرژی اتمی ایران، تهران، ایران

امیرحسین احمدی

دکتری، گروه ارتباطات ماهواره ای، پژوهشکده فناوری ارتباطات، پژوهشگاه ارتباطات و فناوری اطلاعات، تهران، ایران

پروین سجودی

کارشناس گروه ارتباطات ماهواره ای، پژوهشکده فناوری ارتباطات، پژوهشگاه ارتباطات و فناوری اطلاعات، تهران، ایران

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • Ö. Amutkan, "Space Radiation Environment and Radiation Hardness Assurance Tests ...
  • E. G. Stassinopoulos and J. P. Raymond, "The Space Radiation ...
  • “ESA ESA and Space Debris”, European Space Agency. https://www.esa.int/About_Us/ESA_Publications/ESA_Publications_Brochures/ESA_BR۳۰۹_ESA_and_Space_Debris ...
  • J. R. Schwank, M. R. Shaneyfelt, and P. E. Dodd, ...
  • ECSS, “Space Product Assurance - Software Product Assurance”, ESA, ۱۹۹۶ ...
  • ECSS, Space product Assurance Radiation Hardness Assurance, in ESA-TEC-QE/۲۰۰۹/۲۲, ESA, ...
  • Moore A, and Jimenez J. GaN RF Technology for Dummies. ...
  • K Bernard, "Advantages of Using Gallium Nitride FETs in Satellite ...
  • J. Haiwei, L. Qin, L. Zhang, and et al., "Review ...
  • S.J Pearton, F. Ren, E. Patrick, and et al. "Review ...
  • K. Hirche et al., “GaN Reliability Enhancement and Technology Transfer ...
  • A. Y. Polyakov, S. J. Pearton, P. Frenzer, F. Ren, ...
  • A. C. Vilas Bôas et al., “Ionizing Radiation Hardness Tests ...
  • ECSS, “Methods for the Calculation of Radiation Received and Its ...
  • R. Omidi , K. Mohammadi, “ SEU Rate and Reliability ...
  • H. Daneshvar, M. Khoshsima and A. Dayani, “Study of Modeling ...
  • H. Daneshvar, K. Gh. Milan, A. Sadri, S. H. Sedighy, ...
  • K. Gh. Milan, A. Sadri, S. H. Sedighy and H. ...
  • M. Mokhtari et al., “Experimental Study of the Effect of ...
  • ESA ESCC Basic Specification No. ۲۲۹۰۰, “Total dose steadystate irradiation ...
  • ESA ECSS, “ECSS-Q-ST-۶۰-۱۵C Radiation Hardness Assurance - EEE Components”, ECSS ...
  • ECSS-E-ST-۱۰-۱۲C– Methods for The Calculation of Radiation Received and Its ...
  • ECSS, Space product Assurance Radiation Hardness Assurance - EEE components ...
  • D. Custodian a/ac E. S. Agency, "Total Dose Steady-State Irradiation ...
  • A. Varotsou, "OMERE Space Radiation Environment and Effects Tool: New ...
  • H. Daneshvar, A. Eidi, L. Mohamadi, R. Omidi, P. Hajipour, ...
  • Y. Ye et al., “The Secular Variation of the Center ...
  • H. Daneshvar, “Calculation of Radiation Damage on Electronic Devices”, Shahid ...
  • M. Poizat, “Radiation Environment and its Effects in EEE. Components ...
  • F. W. Sexton, “Measurement of Single-Event Phenomena in Devices and ...
  • “Integrated Circuits (Microcircuits) Manufacturing, General Specification for”, MIL, ۲۰۰۲ ...
  • S. Division, “Space Product Assurance Radiation Hardness Assurance”, ۲۰۱۲ ...
  • Jet Propulsion Laboratory, “Radiation Design Margin Requirement”, NASA, ۱۹۹۹. [Arlein]. ...
  • J. Ripa, G. Dilillo, R. Campana, G. Galgoczi, “A Comparison of Trapped Particle ...
  • نمایش کامل مراجع