A Comparative Overview of Electronic Devices Reliability Prediction Methods-Applications and Trends
محل انتشار: فصلنامه ادوات مخابراتی، دوره: 5، شماره: 4
سال انتشار: 1395
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: انگلیسی
مشاهده: 55
فایل این مقاله در 9 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
JR_TDMA-5-4_002
تاریخ نمایه سازی: 16 مرداد 1402
چکیده مقاله:
Reliability prediction is vital in the conception, definition, design, development, operation and maintenance phase of electronic devices. It is needed at various system levels and degrees of detail, in order to evaluate, determine and improve the dependability measures of an item when designing electronic devices in view of the high level competition among device manufacturers. Different reliability prediction methods or models are available for electronic devices. This paper comparatively examined the commonly used methods such as empirically based failure rate modeling methodologies used in reliability prediction handbooks, and physics of failure (PoF) based models. Three empirical approaches such as MIL-HDBK-۲۱۷F – a conservative standard applicable principally to military equipment, and Bellcore TR-۳۳۲/Telcordia SR-۳۳۲, which are applicable to commercial devices are reviewed in closer details. Also reviewed is Recueil de Donnes de Fiabilite (RDF) ۲۰۰۰, used in Telecom industry. Some PoF based methods such as Arrhenius law; Eyring model, Black Model for Electromigration, and Coffin Manson Model for fatigue are also examined. Additionally, the respective merits and demerits of the prediction methods which provide the basis for use are noted. The paper also attempts to highlight future trends and challenges in RP of electronic devices.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
Frederick Ehiagwina
Federal Polytechnic, Offa
Titus Adewunmi
Federal Polytechnic, Offa
Emmanuel Seluwa
Federal Polytechnic, Offa
Olufemi Kehinde
Federal Polytechnic, Offa
Nafiu Abubakar
Federal Polytechnic, Offa
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :