بررسی خواص اپتیکی فیلم نازک ZnS به روش تبخیر در خلاء (PVD)

لایه های نازک ZnS در دو دمای مختلف زیر لایه ۲۵oC و ۲۰۰oC و در ضخامت های مختلف ۱۰۰nm-۶۰۰nm بر روی زیرلایه شیشه به روش تبخیر در خلاء لایه نشانی شدند. طیف جذب و عبور برای تعیین گاف انرژی، ضریب جذب و ثابت خاموشی نمونه ها تهیه گردید. از بررسی این طیف ها مشخص شد که با کاهش دمای زیر لایه گاف اپتیکی نمونه ها کاهش وبا کاهش ضخامت آنها گاف اپتیکی افزایش می یابد. این پدیده می تواند به اثر کوانتمی سایز ذرات نسبت داده شود.