پتانسیل تکنیک غیر مخرب طیف سنجی برای تشخیص نقص داخلی سیب زمینی (پوک شدگی) با استفاده از شبکه های عصبی مصنوعی

سیب زمینی یک محصول پرمصرف در سراسر جهان است و تشخیص نقص داخلی در غده ی سیب زمینی برای کنترل کیفیت و کاهش تلفات پس از برداشت از اهمیت زیادی برخوردار است. پژوهش حاضر به منظور تشخیص سیب زمینی های به ظاهر سالم ولی با نقص درونی (پوک شدگی) با استفاده از روش غیر مخرب طیف سنجی پرداخته است در این راستا از یک طیف سنج VIS- NIR-SWIR استفاده شد به کمک هیبرید شبکه عصبی - الگوریتم فرهنگی، طول موج های موثر در دوناحیه ی طیفی VIS- NIR (۱۱۰۰-۳۵۰ نانومتر) و SWIR (۲۵۰۰-۱۱۰۰ نانومتر) تعیین شدند. طول موج های موثر درناحیه ی VIS-NIR شامل ۹۹۸،۸۸۳،۸۶۱ در ناحیه ی SWIR شامل ۱۸۵۸،۱۵۳۹،۱۸۹۶ نانومتر بودند. یک مدل ANN توسعه داده شد که بر روی داده های طیفی به دست آمده از غده های سیب زمینی سالم و پوک شده آموزش دیده بود. نتایج پژوهش توانایی طیف سنجی همراه با شبکه عصبی مصنوعی ANN را به عنوان یک روش غیر مخرب و کارآمد برای تشخیص نقص پوک شدگی در غده های سیب زمینی نشان می دهد که درجه بندی به صورت آنلاین و به حداقل رساندن ضررهای اقتصادی در صنعت سیب زمینی را امکان پذیر می سازد.