معرفی میکروسکوپ نیروی اتمی AFM

سال انتشار: 1396
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 73

فایل این مقاله در 7 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

IRANLABCO03_090

تاریخ نمایه سازی: 16 دی 1402

چکیده مقاله:

یکی از اصلی ترین تجهیزات شناسایی در مقیاس نانو میکروسکوپ های نیروی اتمی هستند. این میکروسکوپخواصی از نمونه های مورد آنالیز را به صورت غیرمستقیم با استفاده از سوزنی بسیار تیز که در حالت ایده آل در نوک آن تنها یک اتم قرار دارد را موردبررسی قرار می دهد. میکروسکوپ نیروی اتمی در زمینه های نانو فناوری ، الکترونیک ، انرژی ، فضانوردی کاربرد دارد. به دلیل اینکه هیچ محدودیتی ازلحاظ خواص فیزیکی مواد برای این میکروسکوپ وجود ندارد ازاین رو می توان در جهت مطالعه انواع مواد رسانا، نارسانا و نیمه رسانا استفاده کرد.. کیفیت تصاویر و میزان تفکیک پذیری بسیار بالای آنها قابل مقایسه با سایر تصاویر است که نشاندهندهی آنالیز مطلوبتر و دقت بالای تصویربرداری این میکروسکوپ نسبت به دستگاه های دیگر است در این مقاله به معرفی میکروسکوپ نیروی اتمی و اساس کار آن پرداخته می شود.

نویسندگان

سمیرا سلجوقی پبدنی

دانشجوی کارشناسی ارشد، گروه مهندسی شیمی ، دانشکده فنی مهندسی ، دانشگاه محقق اردبیلی ، اردبیل ، ایران

بهروز میرزایی

هیئت علمی گروه آموزشی مهندسی شیمی ، دانشکده فنی مهندسی ، دانشگاه محقق اردبیلی ، اردبیل ،ایران