بررسی مورفولوژی سطحی دولایه ای های نقره - آلومینیوم و نقره مس

سال انتشار: 1392
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 722

فایل این مقاله در 8 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

ISSE14_036

تاریخ نمایه سازی: 9 بهمن 1392

چکیده مقاله:

در این مقاله خواص سطحی لایه های نازک نقره ، آلومینیوم و مس و دولایه ای های نازک نقره آلومینیوم و نقره مس، در اثر تغییر ضخامت لایه ها، بررسی شده است. این لایه ها، به روش کندوپاش مگنترون، بر روی زیر لایه هایی از جنس شیشه ی بی ریخت، انباشت شده اند . به منظور بررسی تغییرات خواص سطحی و مورفولوژی(تغییر دانه بندی و زبری) لایه ها در اثر تغییر ضخامت، از آنالیز های میکروسکوپ الکترونی SEM) و میکروسکوپ نیروی اتمی AFM 10- استفاده شده است. گستره تغییر ضخامت لایه ها از 60 - 10 نانومتر می باشد. انباشت نقره روی آلومینیوم و مس، و انباشت آلومینیوم و مس روی نقره و دگرگونی ویژگی ساختاری آنها مورد مقایسه قرار گرفته است.

کلیدواژه ها:

لایه نازک نقره ، دولایه ای های نقره - فلزات ، زبری و مورفولوژی

نویسندگان

نرگس بیرانوند

دانشگاه پیام نور واحد ازنا، لرستان(کارشناس ارشد فیزیک اتمی)

اکبر زنده نام

آزمایشگاه لایه نازک، گروه فیزیک، دانشکده علوم، دانشگاه اراک، اراک ایران(استادیار)

بیژن فرخی

. آزمایشگاه لایه نازک، گروه فیزیک، دانشکده علوم، دانشگاه اراک، اراک ایران (استادیار)

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • پایان نامه کارشناسی ارشد فیزیک، کر زنده نام، آرزو شفیعی ...
  • M. Kawamura, M. Yamaguchi, Y. Abe and K. Sasaki, "Electrical ...
  • K. Sugawara, M. Kawamura, Y. Ab, K. Sasaki., "Comparison of ...
  • نمایش کامل مراجع