مطالعه اثر زیرلایه روی خواص ساختاری و اپتیکی لایه های نازک نانومتری CdZnO سنتز شده به روش سل-ژل

در این کار ابتدا لایه های نازک نانومتری اکسید کادمیوم روی CdZnO با ضخامت متوسط 245 نانومتر دمای خشک ساز 250 درجه سانتیگراد بر روی زیر لایه های شیشه ای و سیلیکونی به روش سل ژل چرخشی رشد داده شدند. سپس لایه های آماده شده در دمای 500C تحت عملیات بازپخت قرار گرفتند، سپس خواص اپتیکی و ساختاری این نمونه ها با استفاده از نتایج حاصل از اندازه گیری های طیف عبور و بازتاب و پراش پرتو Xء (XRD) و تصاویر میکرسکوپ الکترونی روبشی (SEM) ثبت شده از سطح نمونه ها بررسی شدند. نتایج این مطالعه نشان داد که لایه های رشد داده شده روی زیر لایه سیلیکونی از خواص ساختاری بهتری در مقایسه با نمونه دیگر برخوردار است. همچنین گاف نواری این نمونه در مقایسه با لایه رشد داده شده روی زیرلایه شیشه ای بزرگتر است.