محاسبه قابلیت اطمینان مبدلهای چند سطحی الکترونیک قدرت : تئوریها و کاربردها

مراجع و منابع این مقاله:

• W.Wu, C. Fan, Y. Wang, and W. Cui, SSEM investigation ...
• O. V. Thorsen and M. Dalva, _ survey of the ...
• R. A. Hanna and , Prabhu, _ _ Me dium-voltage ...
• manufacturers experiences, " IEEE Tran, Ind. Appl., vol. 33, no. ...
• S. Yang, A. Bryant, P. Mawby, D. Xiang, L. Ran, ...
• J. Rodriguez, P. Lezana, J. Pou, S. Ceballos, F. Richardeau, ...
• S. Ceballos, J. Pou, E. Robles, J. Zaragoza, and J. ...
• F. Richardeau, P. Baudesson, and T. Meynard, _ Fai lures-tolerance ...
• C. Turpin, P. Baudesson, F. Richardeau, F. Forest, and T. ...
• X. Kou, K. A. Corzine, and Y. L. Familiant, :A ...
• F. Richardeau, Z. Dou, J.-M. Blaquiere, E. Sarraute, D. Flumian, ...
• Recueil de donnees de fiabilite RDF 2000, UTE- C80-810, Jul. ...
• 217Plus Handbook, RIAC, , Utica, NY, 2007, (based on MIL ...
• M. T. Chao, J. C. Fu, and M. V. Koutras, ...
• S. Iyer, "Distribution of time to failure of consecutive k-out-of-n: ...
• R.L. A.Ribeirol, C. B. Jacobina, A. M. N. Lima, and ...
• J. Mavier, F. Richardeau, H. Piquet, and G. Gateau, "Fault-tolerat ...
• Power Electron. Appl. Conf., 1995, pp. 1033-1038 ...
• T. H. Liu, J. R. Fu, and T. A. Lipo, ...
نمایش کامل مراجع