تعیین ثابتهای اپتیکی فیلم های نازک ایریدیم لایه گذاری شده در روی زیر لایه سیلیکا (SiO2) و بررسی اثر پارامترهای روش لایه گذاری در کیفیت ناهمواری لایه

مراجع و منابع این مقاله:

• K. Mumtaz. J. Echigoya. T. Hirai, and Y. Shindo, Mater. ...
• Y.-M. Sun. J. P. Endle. K. Smith, S. Whaley. R. ...
• B. A. Banks et al., NASA TM 1999-209180 (1999). ...
• K. K. de Groh. B. A. Banks. G. C. dark. ...
• R. Parsons, in Thin Film Process II. edited by J. ...
• M. R. Behfrooz and J.A. Woollam, Optical Properties of Thin ...
• D. W. Lynch and W. R. Hunter, in Handbook of ...
• R. M. A. Azzam and N. M. Bashara. Ellipsometry and ...
• J. George, Preparation of Thin Films (Marcel Dekker. New York. ...
نمایش کامل مراجع