هواپیما و بررسی احتمال انجام تست جریان گردابی بر روی پرچهای آشکار سازی عیوب (POD) موجود در آنها

سال انتشار: 1387
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,874

فایل این مقاله در 9 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

ICTINDT02_026

تاریخ نمایه سازی: 3 شهریور 1387

چکیده مقاله:

همانطور که واضح است پرچ ها (RIVET) نقش مهمی در تشکیل شاکلهی اصلی هواپیما دارند . زیرا بوسیله پرچ ها ست که فریم های مختلف هواپیما بهم متصل شده و شکل میگیرند . از طرفی اکثر پرچ ها بدلیل تماس بسیار زیاد با جو در معرض بوجود آمدن بیشترین عیوب قرار دارند . از این رو تست پرچ ها باید بسیار دقیق و منظم انجام گیرد تا از ایجاد صدمه شدید به هواپیما جلوگیری شود . از آنجاییکه تستهای غیر مخرب نظیر تست مایعات نافذ ( به دلیل داشتن پوشش رنگ) یا رادیو گرافی ( به دلیل سطحی بودن ترکها) و آلترا سونیک (بدلیل مواضعی که جای قرار گرفتن پروب مناسب وجود ندارد ) برای تست پرچ ها محدودیت دارند ، از تست جریان گردابی (Eddy Current ) استفاده میشود البته تست جریان گردابی بر روی پرچ ها نیاز به تست بلوکهایی دارد که به کمک آنها بتوان دستگاه موجود را برای دیدن عیوب مختلف کالیبره کرد. در این مقاله چند نمونه تست بلوک مورد نیاز جهت بررسی عیوبی مانند ترک و خوردگی بررسی میشوند.همچنین نتایج تست جریان گردابی با دستگاههای مختلفی مانند Nortec 19e Nortec 30eddyscan, Zetec با هم مقایسه میشوند تا احتمال آشکار سازی عیوب (POD) توسط دستگاههای مختلف تعیین گردد.

کلیدواژه ها:

عمق نفوذ-تست بلوک- پروب

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • -Hagemaier, D., ، Eddy-Current Detection of Short Cracks Under Fasteners, ...
  • Spencer, F.W., *'Inspection Reliability of Nortec-30 Eddyscan System. ...
  • -Wincheski, B ., et al. , *Self-Nulling Eddy-Current Probe for ...
  • _ Non destructive Testing Manual-A310 ...
  • نمایش کامل مراجع