مشخصه یابی خواص اپتیکی و ساختاری لایه های نازک اکسید آلومینیوم تهیه شده به روش سل - ژل
محل انتشار: دهمین سمینار ملی مهندسی سطح و عملیات حرارتی
سال انتشار: 1388
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 2,599
فایل این مقاله در 9 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ISSE10_102
تاریخ نمایه سازی: 1 فروردین 1388
چکیده مقاله:
در این تحقیق لایه های نازک اکسید الومینیوم با استفاده از تکنیک غوطه وری روش سل - ژل تهیه شدند. طیف تراگسیل لایه های تهیه شده در دماهای بازپخت مختلف به وسیله طیف سنج UV-Visible اندازه گیری شد. با استفاده از داده های طیف تراگسیل تجربی و به کمک روش بهینه سازی نامقید ، ضخامت لایه، ضریب شکست (n) و ضریب جذب (a) به ازای طول موج های مرئی تعیین شد. نتایج بدست آمده نشان میدهند که افزایش دمای بازپخت، موجب کاهش ضخامت و افزایش ضریب شکست و ضریب جذب لایه ها می گردد و گاف نواری انرژی تغییر می کند. ساختار کریستالی لایه های نازک اکسید آلومینیوم توسط آنالیز ERD بررسی شد. الگوی پراش حاکی از آمورف بودن لایه ها تا دمای 500C می باشد. نقش پراش پرتو X پودرهای تهیه شده از سل آلومینانمایانگر گذار فاز اکسید آلومینیوم با افزایش دمای عملیات گرمایش از فاز ناپایدار گاما به فاز پایدار آلفا در دمای 1000C می باشد. مشخصه مورفولوژی سطح لایه توسط میکروسکوپ پروبی روبشی (SPM) مورد مطالعه قرار گرفت.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
فریانه فرهادی
گروه فیزیک دانشگاه گیلان
فرهاد اسمعیلی قدسی
گروه فیزیک دانشگاه گیلان
جمال مظلوم
گروه فیزیک دانشگاه گیلان
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :