بررسی اثر نوع پلیمر بر منحنی مشخصه C-V دیود شاتکی ساخته شده از لایه نازک فلز / فیلم پلیمر و اندازه گیری گاف انرژی پلیمرها با استفاده از اسپکترومتر تک پرتوی UV-vis
محل انتشار: شانزدهمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران
سال انتشار: 1388
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,743
متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ICOPTICP16_034
تاریخ نمایه سازی: 18 تیر 1388
چکیده مقاله:
در این پژوهش از آنیون های -(ClO4) و 3-(Fe(CN)6) جهت آلاییدن پیرول ، ایندول و کومونومر (پیرول - ایندول) که به روش الکتروشیمیایی برروی لایه ای از طلا پلیمر شدند استفاده گردید. ایندیم به روش تبخیر در خلا بر روی فلیم ها لایه نشانی شد. و چگالی حامل ها، ولتاژ اتصال و پهنای ناحیه تهی در ولتاژ صفر با استفاده از نمودار ظرفیت - ولتاژ برای هر یک از دیودها اندازه گیری و نتایج حاصل از آن در جدول ارائه گردید. همچنین گاف انرژی پیرول با استفاده از اسپکترومتر تک پرتوی UV-vis تخمین زده شد و اثر نوع آنیون آلاینده بر گاف انرژی پیرول مورد بررسی قرار گرفت.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
سمانه مظفری
گروه اتمی مولکولی، دانشکده فیزیک، دانشگاه یزد، یزد
عباس بهجت
گروه اتمی مولکولی، دانشکده فیزیک، دانشگاه یزد، یزد
محمدرضا ناطقی
دانشکده شیمی، دانشگاه آزاد اسلامی یزد
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :