رشد و مشخصه یابی فیلم نازک باریم هگزافریت به روش لایه نشانی لیزری

امروزه ساخت و مشخصه یابی فیلمهای نازک باریم هگزافریت به دلیل اهمیت در کاربردهای مایکروویو مورد توجه فراوان قرار گرفته است. دراین مقاله فیلم نازک باریم هگزافریت با ترکیب BaFe12O19 به کمک روش لایه نشانی لیزری تحت خلاء با استفاده از باریکه هارمونیک سوم لیزر Nd:YAG رشد داده شده است. خواص اپتیکی و ساختاری فیلم با استفاده از طیفهای عبور و جذب طیف پراش پرتو ایکس و آزمایش پراکندگی بازگشتی رادرفورد و میکروسکوپ نیروی اتمی مورد تحقیق قرار گرفته است همچنین خواص مغناطیسی لایه نازک با کمک چیدمان اندازه گیری چرخش فارادی قبل و بعد از باز پخت به منظور استفاده از نمونه در ادوات تخت مایکروویو مورد بررسی قرار گرفته است.