ورود
مقالات فارسیISIکنفرانسهاژورنالها

Permutation Entropy as a Parameter of Characterizing the Surface of a Thin Film

محل انتشار: نشریه متدهای شیمیایی، دوره: 4، شماره: 2
سال انتشار: 1398
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: انگلیسی
مشاهده: 464

فایل این مقاله در 9 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:
https://civilica.com/doc/964630

شناسه ملی سند علمی:

JR_CHM-4-2_005

تاریخ نمایه سازی: 17 آذر 1398

چکیده مقاله:

In this work, silver thin films were prepared using sputtering at different deposition times with the nanoscale thickness. To investigate their surface morphology, atomic force microscopy (AFM) and scanning electron microscopy (SEM) were employed. The surface topography of the samples studied using the AFM. The results revealed that, the roughness of the thin films enhanced by increasing the sputtering time. The permutation entropy (PE) was introduced as an interesting parameter to characterize the surface morphology. At the best of our knowledge, it is the first time one uses the PE for characterizing the thin films. Although the roughness might always enhance by increasing the film thickness, it was not the case for PE. The PE was found to be an independent parameter for characterizing the surface of thin film.

کلیدواژه ها:

Surface roughness ، Permutation entropy ، Atomic Force Microscopy (AFM) ، Thin film

نویسندگان

Mohammad Reza Zamani Meymian

School of physics, Iran University of Science and Technology (IUST), ۱۶۸۴۶-۱۳۱۱۴, Tehran, Iran

Rouhollah Haji Abdolvahab

School of physics, Iran University of Science and Technology (IUST), ۱۶۸۴۶-۱۳۱۱۴, Tehran, Iran

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • Barabasi A.L., Stanley H.E. Fractal Concepts in Surface Growth. Cambridge ...
  • Zhao Y., Wang G.C., Lu T.M. Characterization of Amorphous and ...
  • Bandt C., Pompe B. Phys. Rev. Lett., 2002, 88:174102 ...
  • Zunino L., Soriano M.C., Fischer I., Rosso O.A., Mirasso C.R. Phys. Rev. E Stat. ...
  • Cao Y., Tung W.W., Gao J.B., Protopopescu V.A., Hively L.M. Phys. Rev. E Stat ...
  • Otsuki, T., Yoshioka Y., Holian A. Biological Effects of Fibrous ...
  • Jiang, Y., Pillai S., Green M. J. Appl. Phys., 2016, ...
  • Taneja P., Ayyub P., Chandra R. Phys. Rev. B, 2002, ...
  • Mirzaei, A., Janghorban K., Hashemi B., Bonyani M., Leonardi S.G., ...
  • Zhang C., Kinsey N., Chen L., Ji C., Xu M., ...
  • Jiu J., Sugahara T, Nogi M, Araki T, Suganuma K, Uchida H, Shinozaki K. Nanoscale, ...
  • Velammal, S.P., Devi T.A., Amaladhas T.P. J. Nanostruct. Chem., 2016, ...
  • Lateef A., Azeez M.A., Asafa T.B., Yekeen T.A., Akinboro A., ...
  • Desai P.P., Prabhurajeshwar C., Chandrakanth K.R. J. Nanostruct. Chem., 2016, ...
  • Kato Y., Ono L.K., Lee M.V., Wang S., Raga S.R., ...
  • Perumal, J., Kong K.V., Dinish U.S., Bakker R.M., Olivo M. RSC ...
  • Geagea, R., Aubert P.H., Banet P., Sanson N. Chem. Commun., 2015, 51:402 ...
  • Wood A., Bok S., Mathai J., Chen B., Suresh D., ...
  • Zhao H., Ni Z., Ye F. Surface Eng., 2016, 32:307 ...
  • Li N., Liu Z.T., Feng L.P., Jia R.T. Surface Eng., 2016, ...
  • Nasehnejad M., Nabiyouni G., Shahraki M.G. J. Phys. D: Appl. ...
  • Nasehnejad M., Nabiyouni G., Shahraki M.G. Surface Eng., 2017, 33:389 ...
  • Nasehnejad M., Nabiyouni G., Shahraki M.G. Phys. A: Statist. Mechanics ...
  • Family F. Vicsek A.T. J. Phys. A: Mathemat. General, 1985, ...
    • نمایش کامل مراجع