سنتز و مشخصه یابی لایه نازک اکسید مس رشد یافته به روش کندوپاش واکنشی

سال انتشار: 1398
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 723

فایل این مقاله در 7 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

ISSE20_046

تاریخ نمایه سازی: 22 اردیبهشت 1399

چکیده مقاله:

در این پژوهش لایه اکسید مس به روش کندوپاش واکنشی بر روی زیرلایه های شیشه ای در توان های مختلف لایه نشانی شده اند. به منظور بررسی خواص ساختاری و اپتیکی لایه ها به ترتیب از روش های مشخصه یابی پراش اشعه ایکس (XRD) و طیف سنجی UV-Vis استفاده شده است. نتایج نشان می دهند که با افزاش توان، فاز اکسید مس (Cu2O) به فاز کریستالی مس تغییر پیدا می کند. با بررسی خواص اپتیکی، گاف انرژی اکسید مس 2/58ev مشخص شده است.

نویسندگان

خدیجه فرهادیان

دانشکده مواد و صنایع، دانشگاه صنعتی نوشیروانی بابل، بابل (دانشجوی کارشناسی ارشد نانو مواد)

مرضیه عباسی فیروزجاه

دانشکده مهندسی، دانشگاه فناوری های نوین سبزوار، سبزوار (استادیار)

مجید عباسی

دانشکده مواد و صنایع، دانشگاه صنعتی نوشیروانی بابل، بابل (دانشیار)

مجتبی هاشم زاده

دانشکده فیزیک، دانشگاه صنعتی شاهرود، شاهرود (استادیار)