بررسی خواص الکترواپتیکی لایه نازک نانوسیم نقره
محل انتشار: بیست و یکمین همایش ملی مهندسی سطح
سال انتشار: 1399
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 336
فایل این مقاله در 8 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ISSE21_004
تاریخ نمایه سازی: 22 اردیبهشت 1400
چکیده مقاله:
در پژوهش حاضر نانوسیم نقره به روش پلی-ال سنتز شده و لایه نشانی نانوسیم نقره روی زیرلایه های شیشه ای بهروش دراپ کستینگ انجام گرفت. مشخصه یابی لایه نازک با استفاده از روش های پراش سنجی پرتوایکس،میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدان، طیف سنج UV- VIS و پروب چهار نقطه ای انجام شد. نتایج حاصلهنشان می دهد نمونه با شفافیت ۸۰ درصد در طول موج موئی، دارای مقاومت سطحی ۸۹ اهم بر مربع می باشد.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
محمد سعیدی
اصفهان، شاهین شهر، دانشگاه صنعتی مالک اشتر (کارشناس ارشد مهندسی مواد)
اکبر اسحاقی
اصفهان، دانشگاه صنعتی مالک اشتر، دانشکده مهندسی مواد (دانشیار)
عباسعلی آقایی
اصفهان، شاهین شهر، دانشگاه صنعتی مالک اشتر، دانشکده مهندسی مواد (دانشجوی دکتری)
حسین زابلیان
اصفهان، صنایع الکترواپتیک صاایران (صاپا)