ارائه روشی جهت انتخاب منطقه و ضریب وارونگی کانال ترانزیستور جهت دستیابی به فاکتور خطینگی ایده آل با استفاده از مدل EKV

در این مقاله یک روش ابداعی جهت یافتن منطقه و ضریب وارونگی مناسب جهت دستیابی به فاکتور خطینگی ایده آل در مدارات آنالوگ و RF و در فرآیندهای پیشرفته جهت کاربردهای گوناگون ماننداینترنت اشیاء و M۲M پیشنهاد گردیده است. مدل مورد استفاده در این روش مدل EKV و پارامتر اصلی طراحی که این شیوه بر پایه آن تشریح می شود ضریب وارونگی IC است که مشخصه های موردنیاز در این شیوه بر اساس آن و در تمامی نواحی طراحی یعنی WI ، MI ، SI و VS استخراج گردیده اند. دو شاخصه مهم خطینگی یعنی A۱dB و AIP۳ ابتدا برای بک تقویت کننده تفاضلی یک طبقهمحاسبه و نتایج مربوطه جهت برآورد هدف این مقاله تجزیه و تحلیل می شود. برای تعمیم نتایج بدست آمده برای سایر مدارات، شاخص های مربوط به خطینگی در یک مدار کسکود نیز بررسی و درستی نتایج حاصله تایید می گردد. در انتها نقطه اپتیمم ضریب وارونگی جهت بایاسینگ قطعات فعال آنها بدست آورده می شود