اثر ضخامت روی خواص ساختاری و مورفولوژی پوشش های دی اکسید تیتانیوم

در این تحقیق برای ایجاد پوشش های TiO۲ روی زیرلایه سر امیک از روش سل -ژل و غوطه وری استفاده شده است. لایه نشانی در سه مرحله با مدت زمان غوطهوری ۶/۰S؛ ۴۰، ۲۰ انجام شد و سپس نمونه ها تا دمای ۴۵۰˚C کلسینه شدند.نمونه ها با ضخامت های مختلف به ترئیب به صورت A۱, A۲, A۳ نامگذاری شدند.مشخصات ساختاری و ریزساختاری نمونه ها با استفاده از آنالیز XRD وتصاویر SEM مورد تحلیل قرار گرفت. در نمونه های A و A۲ فازهای غالب،فا زهای زیرلایه می باشند. درحالی که نمونه A۳ با بیشترین شدت در زاویه ˚۲۵/۳ فاز پاید ار آناتاز را نشان داد. بررسی های ریز ساختاری با استفادهاز SEM نشان داد که در پوشش هایی با ضخامت های کم، هسته های اولیه TiO۲تشکیل شده و سپس با افزایش ضعامت پوششء ذراتی در حدود ۵۰nm روی هسته-های اولیه رشد می یابند. داده های کمی به دست آمده از نتایج AFM نشانداد که کسر تخلخل سطحی نمونه ها و زبری سطح با افز ایش ضتخامت لایه نشانی A۱تا A۳ افز اش می یابد.